掃描電鏡測(cè)試

掃描電鏡是一種用途廣泛的科學(xué)研究?jī)x器,是通過(guò)電子束來(lái)成像的,，其放大倍數(shù)可達(dá)幾十萬(wàn)倍，分辨率可達(dá)納米級(jí)別，是形貌和成分分析領(lǐng)域極其重要的一種工具。

掃描電鏡測(cè)試原理:

掃描電鏡利用高能量電子束轟擊樣品表面，激發(fā)出樣品表面的各種物理信號(hào)，再利用不同的信號(hào)探測(cè)器接受物理信號(hào)轉(zhuǎn)換成圖像信息，可對(duì)陶瓷、金屬、粉末、塑料等樣品進(jìn)行形貌觀察和成分分析。

掃描電鏡測(cè)試項(xiàng)目：

SEM：形貌觀察，利用背散射電子（BEI）和二次電子（SEI）來(lái)成像，可放大倍率5-100萬(wàn)倍 。

EDS：成分分析（半定量），通過(guò)特征X-RAY獲取樣品表面的成分信息，測(cè)量Be及以上元素。

樣品要求：

1.試樣為不同大小的固體（塊狀、薄膜、顆粒），并可在真空中直接進(jìn)行觀察。

2.試樣應(yīng)具有良好的導(dǎo)電性能，不導(dǎo)電的試樣，其表面一般需要蒸涂一層金屬導(dǎo)電膜

掃描電鏡的運(yùn)用：

掃描電鏡相關(guān)測(cè)試常和切片技術(shù)結(jié)合一起做相關(guān)測(cè)試,如:

IMC觀察

錫須觀察

表面成分分析

表面異物分析

顆粒物成分分析

微觀尺寸量測(cè)

金屬鍍層/涂層厚度檢測(cè)